LEXT OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경(LSM), 프로브 현미경(SPM)을 한 대에 결합한 복합 현미경입니다. 관찰 배율은 수십 배에서 수백만 배까지 광범위한 영역을 커버하고 관찰 포인트를 잃는 일 없이 원활하게 밀리미터부터 나노미터까지 관찰 및 측정이 가능합니다.
LEXT OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경(LSM), 프로브 현미경(SPM)을 한 대에 결합한 복합 현미경입니다. 관찰 배율은 수십 배에서 수백만배까지 광범위한 영역을 커버하고 관찰 포인트를 잃는 일 없이 원활하게 밀리미터부터 나노미터까지 관찰 및 측정이 가능합니다.
- OLS4500이 실현하는 새로운 솔루션
- OLS4500에서 가능한 원할한 관찰과 측정
- 가이드 화면으로 따라하기 쉬운 6개의 SPM 측정 모드
- 레이저 현미경으로 다양한 샘플을 유연하게 대응
- OLS4500의 현미경 기술
- 마이크로 영역의 표면 거칠기를 비접촉으로 측정
한번 잡은 타겟은 절대 놓치지 않는다.
전동 리볼버로 배율, 관찰 방법 전환
저배율에서 고배율 관찰이 가능한 4 개의 대물 렌즈와 SPM 장치를 전동 리볼버에 장착하여 배율과 관찰 방법을 원활하게 전환 할 수 있어 관찰 대상을 잃을 일이 없이 바로 나노미터까지 검색 할 수 있는 현미경입니다.
광 범위의 배율과 다양한 관찰 방법으로 관찰 대상을 쉽게 발견 할 수 있습니다.
첨단 광학 기술이 뒷받침된 다양한 관찰 방법과 저배율부터 고배율까지 관찰 대상을 쉽게 찾을 수 있습니다. 또한 광학 현미경으로는 보이지 않는 관찰 대상을 레이저 현미경으로 찾을 수 있습니다. 레이저 미분 간섭 (DIC) 관찰에서는 나노 수준의 미세 요철의 라이브 관찰도 가능합니다.
샘플 세팅부터 이미지 획득까지, 작업시간을 획기적으로 단축
샘플 세팅 이후의 모든 작업을 1대의 장치로 수행 할 수 있습니다.
관찰대상을 신속, 정확하게 SPM 현미경 모드로 가져올 수 있기 때문에, 한 번의 스캐닝 영역 내에서 원하는 SPM 이미지를 얻을 수 있습니다.
일체형이기 때문에 샘플을 옮길 필요 없이 배율 및 관찰 방법을 교체하여 하나의 현미경으로 유연하게 대응 가능합니다.
OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경, 프로브 현미경의 일체형이기 때문에 샘플을 옮길 필요 없이 세 가지의 현미경을 자유 자재로 전환하며 관찰 및 평가가 가능합니다. 각각이 가진 뛰어난 기능으로 효율적인 최적의 결과 값을 얻을 수 있습니다.
올림푸스가 개발 한 캔틸레버의 폭 넓은 라인
SPM의 XY 평면 해상도는 프로브 팁 직경에 의해 결정됩니다. 올림푸스에서 개발 및 제조 된 캔틸레버는 탐침의 끝 날을 안정된 품질로 유지하고 높은 신뢰성을 보장합니다. 또한 탐침 위치를 결정하는 것이 쉬운”TipView”구조나 핀셋으로 잡기 쉬운 “신 개념 팁”등 자신의 디자인에 따라 정확도 뿐만 아니라 유용성도 우수합니다.
*캔틸레버 제품 카탈로그를 별도로 준비하고 있습니다.
OMCL-AC160TS-C3 표준 실리콘 캔틸레버
고분해능 측정을위한 높은 Q 계수
가장 널리 사용되는 다이나믹 모드로서 표면 거칠기 측정에 적합 합니다.
OMCL-AC240TS-C3 미디엄 소프트 실리콘 캔틸레버
재현성이 좋은 점탄성 측정이 가능
다이나믹 모드 용 실리콘 캔틸레버로서는 가장 작은 용수철 상수 “2N / m (Nom.)”을 가지고 점탄성 측정 등에 적합합니다.
OMCL-TR800PSA-1 표준 실리콘 질화물 캔틸레버
낮은 마모, 우수한 내구성
접촉 모드 측정에 널리 사용되고 있으며, 캔틸레버의 부드러움과 탐침의 마모가 적은 것이 특징입니다. 1 칩에 100μm와 200μm 길이 2 종류의 캔틸레버가 있습니다.
다양한 캔틸레버에 대응 가능하며 정확하고 간단한 캔틸레버 교환
캔틸레버는 사용 빈도에 따라 교체해야 합니다. OLS4500에서는 전동 리볼버, SPM 헤드, 캔틸레버 홀더가 엄격하게 통제되고 있어 캔틸레버의 위치가 조정 된 홀더를 SPM 헤드에 삽입하는 것만으로 교체가 완료됩니다. 캔틸레버와 홀더의 위치 조정은 전용 도구를 사용하기 때문에 누구나 정확하고 간단하게 할 수 있습니다. 또한 다양한 종류의 캔틸레버도 같은 방법으로 교환이 가능하여 관찰, 측정의 효율성이 높습니다.
캔틸레버 위치 정렬 도구
STM7 Specifications
| Small frame | Middle frame | Large frame | |||
| Optical System | UIS2 Optical System (Infinity-corrected) | ||||
| Microscope Frame | Observation Method | BF/DF/DIC/KPO*1 | |||
| Reflected/Transmitted | Reflected/Transmitted | ||||
| Illumination System | White: for Reflected Illumination, Green: for Transmitted Illumination with Max. Power Consumption: 10 W | ||||
| Focus | Motorized/Manual | Manual [Manual Type] | |||
| Motorized [Motorized Type] | |||||
| Stroke | 175 mm | 145 mm*2 | |||
| FOCUS button: Coarse movement speed | 8 mm/sec [Motorized Type] | ||||
| Fine Focasing Speed (Variable) | 800 µm/400 µm/200 µm/50 µm (Full Rotation of Knob) 4 Steps [Motorized Type] | ||||
| Maximum measurable height | 175 mm*3, 120 mm*4 | 145 mm*3, 90 mm*4 | |||
| Objectives | Measuring Objectives/Metallurgical Objectives | ||||
| Observation tube | Erect image monocular tube, erect image trinocular tube (100:0/0:100) | ||||
| Stage | Stroke | 50(X)x50(Y)mm | 200(X)x200(Y)mm | 300(X)x300(Y)mm | |
| 100(X)x100(Y)mm | |||||
| Measuring Accuracy | 50 mm Stroke:(3+L/50)µm | (3+4L/200)µm | (3+6L/300)µm | ||
| 100 mm Stroke:(3+2L/100)µm | |||||
| Counter Display | Number of axes | Three | |||
| Unit | mm/μm/inch/mil | ||||
| Minimum resolution | 0.1μm | ||||
| Dimensions | [Manual Type] | 466(W)x583(D)x651(H)mm | 606(W)x762(D)x651(H)mm | 804(W)x1024(D)x686(H)mm | |
| [Motorized Type] | 466(W)x583(D)x811(H)mm | 606(W)x762(D)x811(H)mm | 804(W)x1024(D)x844(H)mm | ||
| Weight | [Manual Type] | 84kg(Approx.) | 152kg(Approx.) | 277kg(Approx.) | |
| [Motorized Type] | 92kg(Approx.) | 159kg(Approx.) | 284kg(Approx.) | ||
| Remark | *1: Simple Polarized Light Observation *2: When using the large frame STM7-LF/STM7-LFA, a specimen whose height is 100 mm or less can be placed at the position backward from the light axis by 180 mm or more. *3: With Objective Lenses for Metallurgical Microscope *4: With Objective Lenses for Measuring Microscope |
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